“芯”机头下压式洛氏硬度计-换代产品功能一览 |
发布时间:2017-07-17 09:16:04 浏览次数:1504 次 来源:奥龙星迪
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产品概述
上海奥龙星迪检测设备有限公司全新机头下压式全自动/半自动洛氏硬度计,采用国际中先进的闭环式传感器控制技术实现全自动控制和硬度测试过程。 加载系统采用高精度力值传感器与中央控制器构成闭环回路实现全程微秒级跟踪和控制加力过程。测深系统采用高精度位移传感器,由此可获得最小硬度值分辨率为0.1HR。载物台固定,由压头上下运动进行硬度测试。固定试台可消除传统丝杠上下旋转而产生的同轴度误差,大大提高了测试的精度和重复性,也增加了机器工作的稳定性和效率。
产品特点
机架结构坚固,刚性好
全自动闭环式传感器加载
测试15种洛氏和15种表面洛氏硬度标尺
高精度,国际对比度小于0.5HR
符合标准ASTM E18 ASTM E384 ISO6508
全新设计,机头下压式。
高精度加载系统,有效避免了测力超负载,同时大大提高了加载速度。
测试过程曲线显示,使材料特性直观,方便观测和学习。
可通过压头自动退离功能在固定工作台进出持续测量
自动提升机头和自动负载初始试验力,能够确保测力稳定生成。
高清晰LCD 触摸屏操作,菜单式操作界面
背光LCD显示,自动数据统计和存储, RS-232数据输出接口。
自动加卸载,保持时间可调
GO/NG公差判断。
圆柱体、球体试验值的修正
测力选择与硬度标尺选择连动。
标尺转换HR、HB、HV
内置打印机。
标准配置齐全,可满足所有标尺的测试要求
产品提升
全自动高速响应闭环传感器加载系统,试台固定,实现高精度快速测试
提升执行机构控制精度
原系统属于毫秒级控制系统。无法实现步控。
新系统属于微秒级控制系统。可实现高速步控。步控精度可达纳米级!
提升设备的综合性能,提高设备的检测精度以及速度
1.提升处理力传感器模拟信号的能力。换“眼”
2.提升处理整体数字信号的能力。换“芯”
3.提升位移测量的精度。换“耳”
4.提升电机控制的精度。换“手”
5.改善人机界面。换“脸”
眼明手快,提高生产效率。
对位移传感器设置专用的管理装置QEI
原主板无专用管理装置,CPU必须在整个加载过程中不断亲自处理位移传感器信号。
设置专用管理装置后,CPU只需在开始和结束两个时间点上读取数据即可,加载过程CPU可集中资源管理力传感器和加载电机,使得控制更为快速,精度更高。
导入日本高精度磁栅位移传感器
原位移传感器为国产光栅位移传感器。存在一致性差,需要与设备进行配套选别的问题。
日本高精度位移传感器一致性高。受环境影响更小。寿命可达1亿5千万次以上。
传统电加荷洛氏硬度计力值加载过程慢,如果加载速度要控制在国标GBT230/T-91要求的8秒内,则会出现如图中红色曲线在试验力F总时不断的过冲和卸除来接近F总的现象。其导致的结果,一是硬度计必须放慢试验的速度,造成检测时间过长;二是过冲现象一定程度上影响了试验精度。
本设备采用国际最新最适用的中央处理芯片,高速响应整个硬度试验的过程,每一次硬度试验的启动到结束,中央处理芯片会超高速的处理1.8万—3万组数据。将传统电加荷硬度计需要8秒才可以做到的加载动作,缩短到1.75秒(ISO6508-1:99统一了试验力施加时间为1~8s之内)。如图中蓝色曲线所示,实现加载过程的速度达到极速,加载到总试验力的过程中力值平滑无过冲, 提高了电加荷硬度计的加载速度和精度。
技术参数:
型号
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暂未定命
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初试验力
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3kgf、10kgf
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主试验力
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15kgf、30kgf、45kgf、60kgf、100kgf、150kgf
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表面洛氏硬度
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HR15N、HR30N、HR45N、HR15T、HR30T、HR45T、HR15W、HR30W、HR45W
HR15X、HR30X、HR45X、HR15Y、HR30Y、HE45Y
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洛氏硬度
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HRA、HRB、HRC、HRD、HRE、HRF、HRG、HRH、HRK、HRL、HRM、HRP、HRR
HRS、HRV
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LCD显示
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洛氏标尺、硬度值、力值曲线、深度曲线、总试验力、保荷时间、上下限设定值GO/NG指示等
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加卸载方式
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超高响应速度闭环加载控制技术(加载、保荷、卸载)
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标尺选择
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触摸屏选择
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标尺转换
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HR、HB、HV
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保荷时间
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0~99s
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数据输出
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内置打印机、RS232接口
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精度
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ASTM
E18、ASTM E384、ISO6508、GB/T230.2
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允许试件高度
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300mm
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试件放置
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外表面放置
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电源
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110/220V
AC、60~50Hz
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GB/T230.1-2009
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普通电加荷洛氏硬度计
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“芯”机头下压洛式硬度计
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施加总试验力时间
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2~8秒
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6~8秒
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1.75~2.5秒
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HRC示值允许误差
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±1.5
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±0.7~±1.0
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±0.15~±0.375
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单次HRC试验最少用时(从压头接触测试面开始到离开。)保荷时间5秒。
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23秒
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12秒
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AD转换
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转换速度:每秒80次
可分辨力:40克
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转换速度:每秒4800次
可分辨力:1克
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主控芯片
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ATMEGA
性能:16MIPS,8位
年代:1996
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DSPIC33EP
性能:30MIPS,16位
年代:2011
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步控精度
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无法实现步控
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高速步控(纳米级)
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人机界面
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传统界面,难以改变
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更加友好的界面,可实现模块化拼接,可接受用户定制,自由度高。
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